Martin Sláma是材料科学和生命科学的FIB- SEM产品经理，有多年使用TESCAN等离子体FIB和镓离子 FIB- SEM进行TEM样品制备的经验。在加入TESCAN公司之前，Martin曾在布尔诺理工大学、中欧技术研究所和阿斯顿大学从事新材料开发和表征的工作。
时间段1：4月28日, 下午3:00 –4:00 （北京时间） 时间段2：4月29日, 上午1:00– 2:00（北京时间）
如今，扫描电子显微镜已经越来越重视对电子束敏感的生物样品（例如组织或者细胞培养物）的观察和分析。先进的SEM镜筒设计可以提供在极低的加速电压下获得高质量图像的能力，这对于能否在接近纳米尺度上高效率地观察敏感生物样品至关重要。
将扫描电子显微镜与聚焦离子束（FIB）定点刻蚀功能相结合，为深入研究生物样品提供了更多的可能性。双束聚焦扫描电镜（FIB-SEM）不仅广泛用于制备可用于透射电子显微镜（TEM）中观察分析的超薄样品，同时可以在正常环境温度和低温条件下进行精确的横截面制备和3D重构。FIB也普遍适用于探索块状样品的内部信息或是为其它分析方式制备样品。使用FIB-SEM进行3D断层扫描是一项已经运用在结构生物学中的强大技术，可以观察到各种细胞器和微小结构，这有助于研究人员深入探讨有关生物过程原理的问题。
本次研讨会上，我们将介绍FIB-SEM如何对生物样品进行详细的结构分析，包括使用等离子FIB剖析大体积样品的细节---这已逐渐成为一种趋势。
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