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INVITATION丨TESCAN 邀您参加第六届电子显微学网络会议

6月/09/2020


        电子显微学网络会议（iConference on Electron Microscopy, iCEM）由仪器信息网于2015年在业内首次发起，旨在利用互联网技术为国内的广大电子显微学科研及相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到电子显微学专家的精彩报告。
        2020年6月16日-19日，仪器信息网(www.instrument.com.cn) 与中国电子显微镜学会（www.china-em.cn）联合主办“第六届电子显微学网络会议(iCEM 2020)”，在中国电子显微镜学会指导下，围绕当下电子显微学最新技术和热点应用邀请业界知名专家学者做精彩报告，分设：电子显微学技术及应用进展、原位电子显微学技术及应用、电镜实验操作及经验分享、先进电子显微学技术及应用、电子显微学技术在材料领域应用、电子显微学技术在生命科学领域应用6个主题专场。

        TESCAN CHINA 作为本次大会的合作赞助商，在电子显微学技术在材料领域应用专场中带来了最新的主题报告，分享显微成像和分析的最新技术和应用拓展。

 

2020年6月18日 14:00-14:30

TESCAN主题报告：TESCAN All In One 在材料领域综合解决方案

【报告摘要】随着科研的深入及学科的交叉，常规扫描电镜系统无法满足科研工作者日益提升的分析需求。借助其它分析系统所得的数据，和电镜系统的数据往往非同时同位。TESCAN 提出了 All-In-One 的综合解决方案，在常规的SEM系统上，增加Raman Spectrum Image 以及 TOF-SIMS 和 AFM 等多种表征系统，可以极大的提升扫描电镜系统的原位综合分析能力，做到所见即所得。

报告人：李景  TESCAN 高级应用工程师

 

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