TESCAN 参加“2018年上海市电镜学术年会”——Xe Plasma FIB-SEM+TOF-SIMS技术亮相!


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作为电子显微镜及聚焦离子束等设备的全球供应商,TESCAN赞助出席了本次年会,并带来了《氙气等离子双束电镜+飞行时间二次离子质谱综合分析平台》的精彩报告。


2018年12月20日,“上海市显微学学会2018年学术年会”在上海市复旦大学成功召开,会议邀请了上海及周边共计200余位专家学者参会,共同交流电子显微学在相关领域的最新成果和应用。作为电子显微镜及聚焦离子束等设备的全球供应商,TESCAN应邀出席,并发表了大会报告。

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上海市显微学学会2018学术年会现场


此次会议邀请了多位行业知名专家分享了电子显微镜在相关领域的最新应用与研究成果。作为材料微观分析的重要工具之一,电子显微镜一直被广泛地应用于材料、生物化工、半导体与电子器件等领域,但随着电镜技术的发展,与电子显微镜相关的联用扩展技术越来越受到关注。

在会议上,TESCAN应用专家马瑞博士带来了《氙气等离子双束电镜-飞行时间二次离子质谱综合分析平台》的精彩报告,向参会的专家学者详细介绍了TESCAN独创的双束电镜-飞行时间二次离子质谱一体化系统(FIB-SEM-TOF-SIMS)的联用创新技术及应用前景。

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TESCAN应用专家马瑞博士带来精彩报告


马瑞博士介绍到,“TESCAN在电镜的综合分析能力以及原位扩展能力上做出了很多创新,独创了很多新技术新方法,包括与拉曼,二次离子质谱等的一体化集成。其中,二次离子质谱联用系统是专门集成在双束FIB系统上的创新技术,可以提供元素定性(从氢元素开始)分析快速高空间分辨率面分布分析和深度剖析及各种微量元素检测,检测浓度可达几个ppm,并可区分同位素

此外,将TOF-SIMS创新集成在FIB-SEM系统上,省掉了标准质谱仪的离子源,同时利用TESCAN氙等离子源的强大功能(快速成像、蚀刻、沉积、光刻及大面积微加工等),可以通过加工样品实现对特定纳米结构进行SIMS分析。”


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大尺寸页岩样品3D重构应用


在会议展区,受到TESCAN 新技术报告的吸引,很多参会的老师纷纷来到TESCAN展台,了解和咨询TESCAN产品和新技术。

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参会老师纷纷来到TESCAN展台了解咨询


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