M&M 2018丨这里有一台最新的 Xe FIB-SEM 'S9000X' 即将发布!


作为电子显微镜行业的全球供应商,TESCAN 将携多款扫描电镜、聚焦离子束系统、多维 X 射线 CT 显微镜及联用扩展分析技术亮相本次大会,并隆重发布 TESCAN 最新一代 Xe 等离子双束电镜系统 S9000X !



M&M 2018(M&M,Microscopy and Microanalysis)将于2018年8月 5日-9日在美国马里兰州的巴尔的摩市召开。M&M是由美国显微学会MSA(MicroscopySociety of America)主办的全球最大的显微技术和分析科学大会,每年举办一次。


TESCAN作为电子显微镜行业的全球供应商,将携多款扫描电镜聚焦离子束系统多维X射线CT显微镜联用扩展分析技术亮相本次大会,并隆重TESCAN最新一代Xe等离子双束电镜系统S9000X!


在午餐和发布会期间,还有来自TESCAN的科学家们带来前沿显微技术及应用讲座。在TESCAN展台,我们也为参观者提供了现场的样品检测演示


△  将现身 M&M 2018 的 TESCAN 产品

将现身 M&M 2018 的 TESCAN 产品







展览会日期2018年8月5日~9日

展览会地点:美国·马里兰州·巴尔的摩

届时,欢迎前去参展的各种专家学者莅临 TESCAN BOOTH #413 参观交流!



TESCAN Program Schedule & Overview


Lunch & Learns




Evening Tutorials





Technical Presentations





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