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内置 AFM/SPM

可充分利用SEM/ FIB-SEM的快速成像并同时获得SPM的信息!

RISE Microscopy

世界上第一台扫描电镜和拉曼光谱联用系统

TOF-SIMS & FERA3

飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)已经可以安装在TESCAN 的LYRA3系列 (镓离子源FIB-SEM)和最新的FERA3(Xe等离子源FIB-SEM)。

EBIC - 电子束感生电流探头

TESCAN 在电子束感应电流/电阻(EBIC)的测量和面扫中加了一种新的方式。完全内置的EBIC探头,可以快速便捷的实现所有软件允许的应用功能。而且TESCAN 使用了纳米探针作为新的EBIC探头的连接方式。创新的方式使得3维EBIC分析成为了现实。

MIRA3 AMU 定制样品室

TESCAN公司提供可定制的超大等级的样品室。

电子束写入模块包(EBL)

电子束写入模块(EBL) 是一款技术已经成熟的配件,它可以在纳米级别上对指定的结构进行调整或修改。

TOP-SIMS

这款产品集成了TESCAN公司的聚焦离子束扫描电镜和Tofwerk公司提供的飞行时间二次离子质谱仪的所有特征。